Laboratoire analytique / Inspection non-destructive / Réflectométrie (TDR)
Teraview EOTPR 2000
Fournisseur :
Modèle :
Fonction :
Identifier et analyser rapidement les défauts d’interconnections des modules d’encapsulation avancés
CAPACITÉ:
- Réflectométrie electro-optique terahertz pulsée
- Méthode d’isolation rapide et non destructive
- Localisation des défauts à l’intérieur de la pièce sous stress
- Exactitude de position du défaut : 10µm
- Identification des connections faibles
- Isolation des courts-circuits, circuit ouverts résistifs et non résistifs
- Résolution des défauts de <5µm
- Portée du test jusqu’à 150mm
