Laboratoire d'assemblage de semi-conducteurs / Inspection / Microscopie acoustique
Sonoscan Fastline P300
Fournisseur :
Modèle :
Fonction :
Non-destructive inspection and analysis of void and delamination in electronic package using acoustic micro imaging technology
CAPACITÉ:
Balayage rapide et positionnement précis du dispositif de balayage
Compatible avec plateau Jedec
Réservoir en L avec zones de balayage et de chargement simultanées
Répétabilité de +/- 0,5 micron de l’axe de balayage
Inertie équilibrée pour un fonctionnement sans vibrations et sans chocs
Pulseur / récepteur numérique haute fréquence, haute puissance
Transducteurs disponibles: 15 MHz, 50 MHz, 75 MHz, 100 MHz, 230 MHz
95 dB sélectionnable par pas de 0,5 dB
Déclenchement de précision des échos avec une largeur de pas numérique sélectionnable par échelon de 0,25 nsec
Affichage simultané des données de polarité (phase) et d’amplitude
256 niveaux d’échelle de gris linéaire avec échos de polarité (+) et (-)
Jusqu’à 4096 x 4096 (17 mégapixels) de numérisation et d’acquisition de données à très haute résolution